La fiabilidad y la seguridad de todos los elementos de la planta, desde los componentes electrónros tipo semicondtdor hasta los sistemas más sofisticados, ha tomado tanta importanda, que se hace necesario dar una visión global lo más exhaustiva posible que sea de interes no sóIo para los especialistas, sino también para un auditorio cada vez más amplio relacionado directa o indirectamente coo estos temas.
EI conocimiento de la fiabilidad y seguridad del proceso es básico para quienes desarrollan su actividad profesional dentro de este campo, como por ejemplo eI jefe u operador del proceso, eI proyectista, eI estudiante, etc.
A todos ellos se dedica este libro (que en su primera edición fue galardonado en los "Premios Mundo Electróniro') que está dividido en tres partes diferenciadas. En la primera parte, que consta de siete capitulos, se estudia la fiabilidad de componentes y de sistemas. En la segunda parte, formada por tres capítulos, se describen los riesgos que comportan bs procesos industriales y se estudian las técnicas de análisis de los mismos y los métocbs de Calidad y Confiabilidad RAM y RAMS con un ejemplo de aplicación. Y en la tercera parte, en forma de anexo, se estudian los métodos estadísticos que son utilizados en fiabilidad y se presentan bases de datos de fiabilidad de elementos mecánros, de electrónicos, de instrumentos y del hombre.
Novedades de esta segunda edición, aparte de la actualización de las técnicas generales de fiabililad, son complementar el método HAZOP e introducir los métodos FMECA, RAM y RAMS.
> Índice Resumido
Parte I - Fiabilidad
1. Introducción
2. Funciones de distribución de fallos
Anexo Capítulo 2. Programas de distribuciones
3. Fiabilidad de sistemas
Anexo Capítulo 3. Programas de distribuciones
4. Mantenibilidad y disponibilidad
5. Fiabilidad de sistemas electrónicos
6. Fiabilidad del hardware y del software
7. Fiabilidad humana
Parte 2 - Análisis de riesgos
8. General idades
9. Técnicas de análisis de riesgos
Anexo Capítulo 9. Programas de simulación
10. RAM Y RAMS
Anexos
Anexo 1. Métodos estadísticos
Anexo 2. Transformadas de Laplace
Anexo 3. Tablas de distribuciones estadísticas
Apéndice: Bancos de datos
> A. Creus
Doctor Ingeniero Industrial (1963) por la ETSIIB y Licenciado en Mediana y Cirujía por la Facultad de Medicina de Barcelona en 1984. De 1963 a 1968 trabajó en Glucosa y Derivados como Jefe de Instrumentación de la nueva planta de Martorell, participando en eI proyecto, instalación y puesta en marcha en coIaboración con eI equipo técniro de instrumentos de Técnicas Reunidas.
De 1968 a 1985 estuvo en eI Grupo Industrial de Honeywell como Director de la Delegación de Barcelona y en el Departamento de Electromediana. Actualmente es profesor tituar de Proyectos en la ETSIIB.